產品系統NEWS CENTER
在發展中求生存，不斷完善，以良好信譽和科學的管理促進企業迅速發展
光學薄膜測厚儀,IRE-200是一款超高精度的外延層厚度測量設備，利用紅外光譜經傅里葉變換進行快速分析，主要應用于Si、GaAs、InP、SiC、GaN等各類外延片的外延層厚度測量。
更新日期：2025-04-27
型號：
廠商性質：生產廠家
Copyright©2026 武漢頤光科技有限公司 版權所有 備案號：鄂ICP備17018907號-2 sitemap.xml 技術支持：化工儀器網 管理登陸
