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在發(fā)展中求生存,不斷完善,以良好信譽(yù)和科學(xué)的管理促進(jìn)企業(yè)迅速發(fā)展光譜橢偏儀是一種非接觸、無損的精密光學(xué)表征設(shè)備,通過測(cè)量偏振光與樣品表面相互作用后的偏振態(tài)變化,精準(zhǔn)推導(dǎo)樣品的光學(xué)常數(shù)、薄膜厚度、晶體結(jié)構(gòu)、組分濃度、表面粗糙度等關(guān)鍵信息,覆蓋紫外(UV)、可見光(VIS)、紅外(IR)全波段,是半導(dǎo)體、光電、薄膜材料、新能源、微電子等領(lǐng)域的核心表征儀器,適配從原子層厚度到微米級(jí)薄膜的精準(zhǔn)測(cè)試,且對(duì)樣品無損傷、制樣要求低。光譜橢偏儀的應(yīng)用領(lǐng)域:半導(dǎo)體工業(yè):測(cè)量氧化物、氮化物、硅化物等薄膜的厚度和光學(xué)常數(shù),優(yōu)化集成電路制造工藝。監(jiān)測(cè)光刻膠厚度,...
查看詳情反射膜厚儀被廣泛應(yīng)用于材料科學(xué)、半導(dǎo)體工業(yè)、光學(xué)涂層等領(lǐng)域,其測(cè)量精度直接影響到產(chǎn)品的質(zhì)量。在進(jìn)行膜厚測(cè)量時(shí),測(cè)量角度是一個(gè)至關(guān)重要的因素。選取合適的測(cè)量角度不僅有助于提高測(cè)量的準(zhǔn)確性,也能有效減少測(cè)量過程中的誤差。一、基本原理工作原理基于光的干涉現(xiàn)象。根據(jù)馬呂斯定律和菲涅爾公式,光在不同介質(zhì)的界面反射時(shí)會(huì)產(chǎn)生相位變化。測(cè)量角度指的是入射光與樣品表面的夾角。不同的測(cè)量角度會(huì)導(dǎo)致光的反射和透射強(qiáng)度不同,從而影響干涉條紋的形成和回波信號(hào)的強(qiáng)度。因此,選擇合適的測(cè)量角度對(duì)于獲取準(zhǔn)確...
查看詳情在現(xiàn)代制造和材料科學(xué)領(lǐng)域,膜厚測(cè)量起著至關(guān)重要的作用。無論是在半導(dǎo)體生產(chǎn)、光學(xué)涂層,還是其他工業(yè)應(yīng)用中,國產(chǎn)膜厚儀的測(cè)量精度直接關(guān)系到產(chǎn)品的質(zhì)量和性能。然而,測(cè)量過程中不可避免地會(huì)產(chǎn)生誤差。本文將探討如何判斷和減少這些測(cè)量誤差,以提高膜厚儀的測(cè)量精度。一、測(cè)量誤差的來源1.儀器本身的誤差:精度與其設(shè)計(jì)、制造工藝、校準(zhǔn)方法等密切相關(guān)。不同品牌和型號(hào),其誤差范圍也各有不同,用戶在選購時(shí)應(yīng)考慮其校準(zhǔn)標(biāo)準(zhǔn)和測(cè)量范圍。2.環(huán)境因素:溫度、濕度、氣壓等環(huán)境條件可能會(huì)影響測(cè)量結(jié)果。高溫或低...
查看詳情膜厚傳感器是非接觸/接觸式測(cè)量物體表面薄膜、鍍層、涂層厚度的核心傳感元件,廣泛用于實(shí)驗(yàn)室材料表征、半導(dǎo)體晶圓鍍膜、五金電鍍檢測(cè)、玻璃涂層、電池極片涂層、精密零件鍍層檢測(cè)等場(chǎng)景,是各類實(shí)驗(yàn)室檢測(cè)儀器的核心配套傳感部件,精度從納米級(jí)到毫米級(jí),不同原理適配不同檢測(cè)需求。膜厚傳感器的工作原理多種多樣,主要取決于其使用的技術(shù)類型,包括但不限于以下幾種:光學(xué)干涉原理:當(dāng)一束光波照射到薄膜表面時(shí),會(huì)在薄膜表面和底部之間形成多次反射和透射,產(chǎn)生干涉現(xiàn)象。通過測(cè)量反射和透射光波的相位差,可以計(jì)...
查看詳情紅外干涉測(cè)厚儀是一種高精度的測(cè)量?jī)x器,廣泛應(yīng)用于材料科學(xué)、半導(dǎo)體制造、光學(xué)薄膜測(cè)量等領(lǐng)域。它利用干涉原理進(jìn)行非接觸式測(cè)量,具有測(cè)量精度高、速度快等優(yōu)點(diǎn)。1.基本原理工作原理基于干涉效應(yīng)。當(dāng)兩束相干光相遇時(shí),如果它們的相位存在差異,就會(huì)產(chǎn)生干涉圖樣。在測(cè)厚過程中,紅外光束經(jīng)過待測(cè)材料的反射和透射,會(huì)產(chǎn)生干涉現(xiàn)象,通過分析干涉條紋的變化,可以精確計(jì)算出材料的厚度。2.結(jié)構(gòu)組成基本結(jié)構(gòu)通常包括以下幾個(gè)部分:2.1光源光源是重要組成部分,通常使用激光或LED發(fā)出的紅外光。紅外光具有波...
查看詳情膜厚測(cè)試儀是一種用于測(cè)量涂層或薄膜厚度的精密儀器,廣泛應(yīng)用于電子、汽車、航空、材料科學(xué)等行業(yè)。膜層的厚度對(duì)于產(chǎn)品的性能、耐用性、外觀等方面都有重要影響,因此,成為了生產(chǎn)過程中的重要設(shè)備。正確使用不僅能提高測(cè)量的精度,還能保證產(chǎn)品質(zhì)量。膜厚測(cè)試儀的使用步驟:1.準(zhǔn)備工作檢查儀器:確保儀器處于良好的工作狀態(tài)。檢查電池是否有足夠電量,確保探頭、顯示屏、按鈕等部件正常。清潔被測(cè)表面:在測(cè)量前,確保待測(cè)物體的表面清潔無油污、灰塵等雜質(zhì),因?yàn)檫@些污物可能影響測(cè)量結(jié)果。選擇合適的模式:根據(jù)...
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